聚合物尤其是高分子复合材料的微型 ATR 化学成像通常需要施加相当大的压力以确保 ATR 晶体和样品之间的良好接触。为了确保此类薄样品能够承受压力而不发生弯曲变形，通常需要详细制定样品制备过程以对截面材料提供支撑：将样品包埋到树脂内，切割树脂以及抛光接触表面。此类过程极为繁琐，不仅需要将树脂过夜固化，还增加了交叉污染的风险。本文中我们展示了一种新型的超低压力微型 ATR FTIR 化学成像方法，不需要任何支撑结构。通过与 ATR 晶体直接接触，该方法可让样品“按原状”进行测量。这项独特的功能是通过采用安捷伦的“实时 ATR 成像”技术实现的，该技术不仅增强了化学对比功能，而且能够确定样品与 ATR 晶体之间发生接触的精确时刻，还可提供接触质量的可视化测量。分析人员无需样品制备即可在 50 微米厚的高分子复合材料中清晰观察到薄至数微米的粘

合层。