光学元件上微小异物的测定–采用红外显微镜AIM-9000 进行扫描和识别-资料下载-岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司

应用领域：电子/电器/半导体，纳米材料

资料类型：其他资料

方案摘要

岛津公司的异物自动分析系统（红外显微镜）AIM-9000 采用将微小部分作为测定目标的光学设计，可以在短时间内获得微米级异物的清晰光谱。本文向您介绍使用本系统对光学元件表面附着的约10μm微小异物进行测定的示例。