在ATR测试过程中，发生全反射的红外光在晶体表面之外产生渐逝电场。该渐逝电场在空间各个方向均存在分量，但是强度不一，使得ATR光谱容易受到样品中各向异性因素的影响。因此，样品红外谱带的相对强度可能随其放置方式而改变。此效应已经被用于测试表面膜和聚合物的取向程度。然而，在测量可能存在各向异性的样品ATR光谱时一定要小心谨慎。特别是在测试通过铸模和挤压等过程制造的产品时，样品放置方式可能导致光谱的显著变化。这种光谱差异可能足以影响材料的鉴别。使用偏振光测试时，粉末的光谱可能表现出明显的取向效应。然而，使用非偏振光测试时，粉末光谱的取向效应基本可以忽略。