半导体检测仪 CABL-9000C seriesEVG
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半导体检测仪 CABL-9000C seriesEVG

产品属性

  • 品牌EVG
  • 产地日本
  • 型号 CABL-9000C series
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产品描述
电子束光刻系统EBL(E-BeamLithography)是纳米光刻技术中的关键设备之一,在微纳电子器件的制作中扮演重要角色。日本CRESTEC公司提供先进的电子束纳米光刻(EBL)系统,也称为电子束直写(EBD)或电子束爆光系统。型号包括CABL-9000C系列、CABL-9000TF系列、8000TF系列、CABL-4200LB和CABL-4200LB。其中CABL-9000C系列最小线宽可达8nm,最小束斑直径2nm,套刻精度20nm(mean+2σ),拼接精度20nm(mean+2σ)。

技术参数:

1. 最小线宽:小于10nm(8nm可提供)

2. 加速电压:5-50kV

3. 电子束直径:小于2nm

4. 套刻精度:20nm(mean+2σ)

5. 拼接精度:20nm(mean+2σ)

6. 加工晶圆尺寸:4-8英寸(标准),12英寸(选项)

7. 描电镜分辨率:小于2nm

主要特点:

1. 采用高亮度和高稳定性的TFE电子枪

2. 出色的电子束偏转控制技术

3. 采用场尺寸调制技术,电子束定位分辨率(addresssize)可达0.0012nm

4. 采用轴对称图形书写技术,图形偏角分辨率可达0.01mrad

5. 应用领域广泛,如微纳器件加工,Si/GaAs兼容工艺,研究用掩膜制造,纳米加工(例如单电子器件、量子器件制作等),高频电子器件中的混合光刻(Mix&Match),图形线宽和图形位移测量等。

超高分辨率电子束光刻EBLUltrahighResolutionEBLithography(CABL-UHseries)在微纳电子器件制作中扮演关键角色。日本CRESTEC公司提供超高分辨率的电子束纳米光刻(EBL)系统,也称为电子束直写(EBD)或电子束爆光系统。CABL-UH系列的型号包括:CABL-UH90(90keV)、CABL-UH110(110keV)、CABL-UH130(130keV)。

技术参数:

咨询******微信同号)

加速电压:最高130keV单段加速能力达到130keV,尽量减少电子枪的长度,超短电子枪长度,无微放电电子束直径<1.6nm最小线宽<7nm双热控制,实现超稳定直写能力。

北京亚科晨旭科技有限公司

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