秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。
该仪器采用Ｘ射线荧光分析(XRF)技术，独特之处在于通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，并通过岩性的组合特征分析来判断层位，适合于任何钻井条件下的岩屑录井。
具备高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器，确保对岩心中的元素具有超低的检出限；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；引入了目前先进的4096道数字多道技术，计数率更高，稳定性更好，适用面更广；优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；独特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方权威机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。
主机标准配置包括上照式光路系统直射模式、SDD探测器、数字多道处理器、美国进口高压进口牛津铍窗X射线管、智能测试软件、校正模块内置、封闭式定向散热系统高阻尼可动防震缓冲支脚、定制CCD高清摄像头。整套设备包括:Ｘ荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵。
该仪器在录井行业应用案例中可用于岩心成份普查、现场分析及圈定油气边界，测试效率高，且能应对各种现场环境的检测任务。拥有外形小巧、简洁大方的设计，可用于车载和实验室，测试方法简单；同时具备X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置，保证无辐射外漏，让测试人员安全放心使用。