贝克曼库尔特公司推出全新一代LS13320XR激光衍射粒度分析仪，将性能提升到更高水平。升级版PIDS专利技术和132枚优化检测器确保仪器分辨率更高，结果更准确，再现性更好。仪器可以测量更宽范围的颗粒，更快速、更可靠地检测极细微的粒径差异。全新软件操作界面更加直观，几次点击即可获得所需数据。
LS13320XR激光衍射粒度分析仪是一款全自动、操作简单的干湿两用粒度分析仪，采用全程Mie光散射理论并提供Fraunhofer理论模型。配备多种新型样品进样模块，满足不同分析需求，灵活便利。专利技术真正实现10nm粒径测量，直观的软件和触摸屏设计简化操作流程。LS13320XR将为您带来全新的测量体验！
超高分辨率可检测单峰、双峰、多峰，纳米、微米和纳微米粒度，10nm-3500µm测量范围提供真实、高分辨率的测试数据。升级版PIDS技术更好解决纳米测量挑战，实现亚微米级粒度分析。自动检测多峰样品，简单直观的操作软件简化日常工作流程，节省时间。
符合FDA规定，《生产质量管理规范（GMP）》和其它法规要求的验证程序可满足安装验证和运行验证需求。简单易用的软件帮助实现准确测量，操作便捷。自检仪器配备诊断功能、自动合格/不合格管理，直接质控样品。帮助您准确测量细微差异，X-D阵列检测器确保高分辨率的准确测量，提供真实粒度分布。
重磅升级实现纳米级测量，LS13320XR采用PIDS专利技术，提供更高分辨率的粒度分析，最低下限可达10nm！传统方法难以区分亚微米颗粒的散射谱图，而LS13320XR能够明显区分水平和垂直偏振光下的散射谱图，提供准确的粒度测量。PIDS技术采用了3种不同波长的光依次照射样品，首先是垂直偏振，然后是水平偏振。通过比较每种波长的水平和垂直辐射光之间的差异，可以准确地得到亚微米样品的粒度分布信息。
升级版PIDS专利技术对光源、滤波器和检测器进行了全面升级，提高了测量亚微米颗粒的动态范围和分辨率。LS13320XR粒度分析仪最大的改进在于能够察觉到微小差异。
LS13320XR采用先进的PIDS技术，提供卓越的粒度分布数据，实现高分辨率的测量和扩展动态范围。与LS13320相同，XR分析仪提供快速、精准的结果，简化工作流程，提高效率。
一些重大改进使您更容易察觉到微小差异，这些微小差异将对粒度分析数据产生重要影响。可直接测量范围在10nm–3,500µm之间，自动突出显示合格/不合格结果，实现更快速的质量控制。
增强版软件简化了标准测量方法的创建，全新控制标准充分验证仪器/模块的性能。LS13320XR功能发现微小差异，扩展测量范围：10nm–3,500µm。
激光衍射加上先进的偏振光强度差散射(PIDS)技术实现高分辨率测量，并可报告最小为10nm颗粒的真实数据。在单个样品中提供针对多种粒度的准确、可靠的检测，易于使用的ADAPT软件可自动进行合格/不合格检查，简化专家和新手的操作流程。
历史数据一步覆盖，用户诊断直观，取样过程中时刻提醒。简化标准测量方法创建流程，ADAPT软件符合《美国联邦法规》第21章第11部分的规定。
可自定义的安全系统，满足多元化需求，可选择4种不同的安全级别，高级别的安全配置符合《美国联邦法规》第21章第11部分的规定。
PIDS技术可直接检测大小为10nm的颗粒，使用3种波长的光（450、600及900nm），通过垂直和水平偏振光照射样品，从多角度测量样品的散射光，提供了高分辨率的粒度分布数据。