产品描述
BeamCheck 集成CCD 光束分析仪直接探测高功率激光的光斑，以及一台功率计用于实时监测测量激光的功率。特殊的分束系统使其可以直接用于高功率激光，极小部分功率被分配给光束分析仪进行光斑分析，而大部分功率由功率计直接探测激光功率。可在近场或焦点处测量。
BeamCheck增材制造专用激光分析系统主要特点：
• 可以测量工作面的激光焦点尺寸以及功率密度
• 波长范围：1060-1080nm
• 功率范围：0.1-600 W
• 可测光斑大小：37μm-3.5mm
• 焦长：200mm- >400mm
