产品描述
• 峰值量子效率>95%
• TE 制冷，*低-100℃
• UltraVac™ 真空密封技术，保证5 年真空质保
• 单光窗设计，将光损失降至*低
• Fringe suppression 技术（条纹抑制），消除背感光CCD的etalon( 干涉)效应
• Dual AR 双镀膜选项，同时提升紫外及近红外波段量子效率
iDus 420系列光谱CCD探测器技术参数指标：
|
型号 |
DV420A |
DU420A |
DU420A-Bx-DD |
|
芯片类型 |
BV：背感光，可见波段优化 BU：背感光，紫外增强350nm 优化 BU2：背感光，紫外增强250nm 优化 BVF：背感光，可见光波段优化以及消除近红外etalon 镀膜 OE：开放电极 |
BR-DD：背感光深耗尽CCD。带有消除近红外波段的etalon 镀膜 BEX2-DD：背感光深耗尽CCD。带有消除近红外波段的etalon 镀膜以及波段扩展双层抗反射膜 |
|
|
有效像素 |
1024×255 |
1024×256 |
|
|
像元尺寸 |
26μm×26μm |
||
|
探测面尺寸 |
26.6 mm×6.6 mm |
||
|
最大光谱采集速度 |
88 (10 rows crop mode), 75 (Full Vertical Bin), 65 ( 开放电极, Full Vertical Bin) |
||
|
线性度 |
>99% |
||
|
最小读出噪声 |
OE：<4 e- ，BU, BU2, BVF：<6 e- |
BR-DD：<4 e- |
|
|
暗电流 |
OE：0.0004 e- /pixel/sec @-100℃， BU/BU2：0.002 e- /pixel/sec @-100℃ , BVF：0.002 e- /pixel/sec @-100℃ |
Bx-DD：0.008 e- /pixel/sec @-100℃ |
|
|
最低制冷温度 |
-70℃ |
-100℃ |
-100℃ |
|
光窗类型 |
单石英窗口，无镀膜。防反射膜或MgF2 可选 |
BR-DD：单石英窗口, 防反射镀膜（900nm 优化） BEX2-DD：单石英窗口，无镀膜 | |
