产品描述
爱特蒙特光束质量分析仪
Ø高分辨率可准确测量及分析小光束质量特性
Ø可为大光束进行分析的大面积传感器
ØUSB 3.0接口实现较快传输率
Edmund Optics® (爱特蒙特光学)光束质量分析仪设计用于测量各类激光束尺寸，为优化激光系统操作提供信息。这些激光束质量分析仪配有高分辨率和大面积传感器，以确保能够针对小型和大型激光束进行精密分析。有两种尺寸可供选择，光束质量分析仪采用适用于 1 英寸 x 32 TPI 安装的螺纹，使之能够与 C 接口配件兼容. 爱特蒙特光学光束质量分析仪备有一外部触发器，可通过脉冲激光与相机同步，同时具有 USB 2.0 与 3.0 兼容性，可提供业内较快的传输率。每台光束质量分析仪还包括具有多个显示选项（2D，3D 和 XY）的直观光束分析软件，以及许多控制工具，例如背景减除功能和高斯拟合.
通用规格
支架: | 1" x 32 TPI (C-Mount) |
像素大小，H x V (μm): | 5.5 x 5.5 |
波长范围 (nm): | 350 - 1150 |
输入光束要求 | Minimum 55μm (10 x 10 pixels) |
包含的滤波器 : | Neutral Density, OD 4.0 (x1) |
产品型号
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11.3 x 11.3 | #11-045 |
