随着材料科学的不断发展,传统的CCD-EBSD已经不能满足广大用户的使用需求。为了提高EBSD的性能,牛津仪器对其软硬件性能均做出了显著的改进和升级。基于CMOS技术的EBSD探测器问世以来,卓越的硬件性能和人性化的软件系统,已经打破了其所在领域的传统规则,将开启EBSD领域的新篇章。 针对CCD EBSD老用户,我们制定了一套产品升级和服务的完整解决方案,以帮助不同行业实验工作者更好地发挥EBSD在分析工作中的效用! Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器和光纤传导光学系统,集高速,高灵敏度和高质量百万像素衍射花样于一体的强大组合,是一款能够覆盖绝大部分应用领域的全能型EBSD探测器。 分析速度大为提升 01 Symmetry S2分析速度可达到4500点/秒,可在几秒钟之内实现织构和晶粒度表征,同时不需要高束流或牺牲花样分辨率。所以,不仅针对常规应用,还可轻松应对大面积分布、3D EBSD和原位实验等特殊应用。同时,织构和相分布的快速表征使得Symmetry S2非常适合于质量控制和高通量应用。 双相钢面分布图,采集时间76秒@4716pps 光纤传导光学系统赋予高灵敏度 02 Symmetry S2探测器内光纤传导光学系统提供了优异的灵敏度,带来低束流条件下的快速分析速度,对于束流敏感和挑战性样品同样能得到出色结果,短时间内完成大量样品的检测。
糜棱状石英(SiO2)岩在29 nA束流条件下4分钟内完成采集
百万像素高质量衍射花样 03 Symmetry S2可以采集百万像素分辨率(1244 x 1024)的EBSD花样,亚像素畸变,保证角度精度优于0.05°,这对于精细的应变和相分析是至关重要的。 用AZtec的高精度标定模式采集的变形Ni晶粒KAM面分布图 丰富多彩的功能模块 04 Symmetry S2可通过软件控制调节探测器高度并自动校准,确保任何大小和类型的样品在合适的几何位置上采集,从TEM薄片到厘米尺度样品;同时还具有专利技术的接近防撞传感器,提前感知可能发生的碰撞,并自动移动探测器至安全位置。 来自大型力学测试的Ti64合金样品的EBSD面分布图,晶粒取向数据用于计算加载方向的杨氏模量 新一代数据处理软件AZtecCrystal 05 数据分析是任何EBSD实验的关键步骤,AZtecCrystal是专为处理使用CMOS探测器而生成的巨大EBSD数据集而开发设计的,基于Aztec 风格界面,增加多种新功能,直观易用。 AZtecCrystal 界面风格和AZtec相同,直观易理解 AztecCrystal 与Channel 5相比 新增多种新功能,详见下表 注:标*项为选配功能