仪器简介:
标准模式
工业规格
手动样品台
自动调焦
技术参数:
活动面积:86.4 x 64.8㎛
波长范围:420~640 nm
厚度测量范围:350Å~3㎛
zei小光斑尺寸:1.35㎛,0.135㎛
透镜旋转台:5X,50X
可测量层:1
样品台尺寸:200mmX200mm
Z轴可重复性:± 1㎛
Z轴自动调节结构:
Z direction Head Movement
Travel range : 50mm
Max. velocity : 50mm/s
主要特点:
非接触式,非破坏式
3D测量图像
可测量亚微米光斑
实样监控
易操作界面
应用领域:
主要用来测量PCB/PWB板铜箔上的OSP薄膜