Serial Block-face SEM 3View图像三维重构
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Serial Block-face SEM 3View图像三维重构

产品属性

  • 品牌日本电子
  • 产地日本
  • 型号Serial Block-face SEM 3View
  • 关注度1630
  • 信息完整度
  • 供应商性质生产商
  • 产地类别进口
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产品描述
  • Serial Block-face SEM 3View

  • 肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与View®2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构,可以对精细结构进行三维分析。

产品特点:

  • 肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与3View®2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构,可以对精细结构进行三维分析。

  • 系统简介

  • JSM-7100F、7800F和3View®2XP(Gatan产品)组合使用,能获得大量的大范围的切片图像。这样就能够进行数百微米区域的三维重构。通过三维重构能够观察二维图像上无法看到的细胞的深处结构。

  • 004.jpg

  • 操作

  • 002.jpg

  •  

  • 自动、反复地切割样品和获取图像,能获得大量的切片图像。 对获得的切片图像,通过软件进行堆叠、调节、生成三维图像。

  • 应用数据

  • 003.jpg

  •  

  • 小鼠大脑 突触
    细分数据
    黄色区域:突触囊泡
    绿化面积:突触后部增厚部分
    红色区域:突触后部
    样品: 承蒙瑞典隆德大学医学系生物成像中心的Deniz Kirik 和 Lina Gefors教授

产品规格:

JSM-7100FJSM-7800F
分辨率1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV)0.8nm (15kV)、1.2nm (1kV)
加速电压0.5~30kV0.01~30kV
放大倍率x 10~1,000,000x 25~1,000,000



 

 3View®2XP
切割厚度15~200nm (生物类样品 25~50nm)
切割速度0.1~1.2mm / 秒
刀片的切割距离1.2mm
样品台驱动范围X/Y: ±700μm Z: 600μm


日本电子株式会社(JEOL)

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