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20170824 飞行时间二次离子质谱仪在工业领域的最新应用

08-2409:30-11:30
距离开始还有 6946
主讲人:郑镭亮 SIMS分析人员

【内容简介】

【课程简介】

TOF-SIMS近年来已成为重要的表面分析方法。 本次讲座,我们将首先介绍与TOF-SIMS相关的一些基本机制和仪器信息。 然后,我们将重点介绍TOF-SIMS在工业领域的应用,特别是在各种工业材料的分析应用中。这些应用实例代表了我们作为一家分析研究公司在材料表征领域的分析能力。

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