检测基体:Fe、Al、Cu等多种基体合金的成分测量
分析通道:zei多31个(大于31个可定制)
EMC:IEC6100-4-2, IEC6100-4-4, IEC6100-4-5
波长范围:170nm~450nm
光栅:凹面全息光栅,焦距750mm,刻线数2400L/mm
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Agilent 5110 ICP-OES完整应用解决方案
纳米薄纱的成分测定