测量范围:Na (11)~U(92)
元素含量分析范围:1ppm~100%
探测器类型:硅漂移探测器(SDD)
X-光管:Rh-阳极标准
X-射线电压:3-50kV,50W
材料PMI生产安全可靠性鉴定主题研讨会
手持式XRF在涂镀层厚度/涂镀量现场测试中的应用
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