复合Si探测器:192个微型探测器
zei大计数率:大于108cps
探测效率:大于98%(Cu靶)
能量分辨率:优于680eV
450倍的强度或者测试速度的提高(相比常规的点探测器与石墨单色器系统)
XRD物相峰问题-非纯物质只显示一种物相,无其他相衍射峰
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