测定元素:Si-PIN探测器:钛元素—铀元素;SDD探测器:镁元素—铀元素
样品形态:固体、液体、粉末样品均可直接检测
典型分辨率:SDD硅漂移探测器125ev;Si-PIN探测器150ev
输出计数率:SDD硅漂移探测器100kcps;Si-PIN探测器30kcps
峰背比:SDD硅漂移探测器>8000;Si-PIN探测器>6200
材料PMI生产安全可靠性鉴定主题研讨会
手持式XRF在涂镀层厚度/涂镀量现场测试中的应用
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