激发源: X射线管,Ag靶,40kV
检测器: XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快
能量分辨率高:145eV
计数率:100 kcps
高灵敏度,可检测低至PPM的微量元素
材料PMI生产安全可靠性鉴定主题研讨会
手持式XRF在涂镀层厚度/涂镀量现场测试中的应用
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