激发源:高性能微型X射线管,Ag 靶,50kV/200μA zei大
探测器为高性能Si-Pin或SDD探测器
分析范围: 从镁(Mg)至铀(U)
精确性:达到国际检测标准2δ标准偏差(90%的置信区间)。
电子系统: 1GHz ARM Cortex A8
材料PMI生产安全可靠性鉴定主题研讨会
手持式XRF在涂镀层厚度/涂镀量现场测试中的应用
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