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麦克默瑞提克颗粒表征技术讲座成功举办

2011.4.30

         麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司于2011年4月27日在北京中科院过程工程研究所过程大厦成功的举办了2011年第5次“颗粒表征技术讲座”。在此次讲座中,来自美国麦克仪器公司的资深专家Simon Yunes博士和Andres先生深入浅出地讲解了物理吸附,化学吸附,电阻法颗粒计数粒径分析以及动态图象法颗粒分析等技术。此外,两位专家还结合使用Micromeritics产品的一些方法技巧与问题,与各位用户进行了深入的交流。麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司总经理许人良博士主持了此次讲座。

       本次培训班吸引了来自石油、催化、材料等领域的100余名听众,其中不乏麦克仪器的用户。值得欣喜的是90高龄的中国颗粒界元老郭慕孙院士也出席了此次技术讲座。郭院士早在20多年前就与美国麦克仪器公司创始人Orr博士有过交往,与Simon Yunes博士也相识20多年。Simon Yunes博士还与郭院士互赠书籍。
        
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