TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中zei重要的一环,而元素分析是其中zei重要的表征手段之一,但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足,......
可满足任何痕量分析要求飞行时间质谱系统拥超强的稳定性,高灵敏度和高质量质谱图,适合高通量实验室的日常工作;其专利的动态背景补偿( DBC)功能和SelectEV功能,又可以得到前所未有的定性能力,适合研发实验室要求。产品特点 &n......
应用于地球科学的大尺寸几何结构离子探针IMS 1300-HR3是一款大尺寸几何结构离子探针,可为广泛的地球科学应用提供无与伦比的分析性能:使用稳定同位素追踪地质过程,矿物定年,以及确定痕量元素的存在和分布。其高灵敏度和高横向分辨率也使其成为......
多功能SIMS工具:高分析效率和全自动化的基准检测灵敏度IMS 7f-Auto是我们获得成功的IMS xf二次离子质谱仪(SIMS)产品系列的新型号。该仪器旨在提高高精度元素和同位素分析的易用性和生产率,已针对玻璃、金属、陶瓷、硅基,III......
应用于高空间分辨率下同位素和痕量元素分析的SIMSNanoSIMS 50L是一款独特的离子探针,在高横向分辨率下优化了SIMS分析性能。该仪器的开发借鉴了一次离子束和二次离子提取的同轴光学设计以及具有多接收功能的原始扇形磁质量分析仪。产品概......
半导体中的四极杆SIMS掺杂物深度剖析和薄层分析CAMECA SIMS 4550为光学器件中的硅、高k、硅锗以及III-V族化合物等复合材料的薄层提供超浅深度剖析、痕量元素和组分测量等一系列扩展功能。高深度分辨率和高通量随着器件尺寸不断缩小......
应用于地球科学实验室的紧凑、高通量SIMSIMS 7f-GEO是单接收SIMS型号,专用于地质样品的高精度/高通量测量,即稳定同位素、稀土元素(REE)、痕量元素……该仪器也可应用于材料科学分析和环境研究。实现高同位素比值再现性的独特检测系......
用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMSAKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测,填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平,确保了各种工具在晶......
为世界领先的地质年代学研究提供的专用离子探针为了满足地质年代学家日益增加的需求,CAMECA推出了KLEORA,这款大尺寸几何结构SIMS仪器专门针对先进的U-Th-Pb矿物定年进行了全面优化。产品概述KLEORA在新一代超高灵敏度大尺寸几......
用于分析放射性样品的高性能屏蔽式 SIMS 仪器众所周知,动态二次离子质谱仪(SIMS)适用于广泛的核科学应用,但对于高放射性材料(如辐照核燃料)的研究,则需要使用特定的仪器。ACTINIS 源于经过实证的 CAMECA IMS 7f 系统......