应用领域：地矿/钢铁/有色金属，电子/电器/半导体，汽车/铁路/船舶/交通，航空/航天，机械设备，高分子材料
资料类型：NONE
利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
方案摘要
