应用领域：电子/电器/半导体
资料类型：其他资料
方案摘要
某些样品很难成像。有时即使前期使用最好的制样方法，也不能帮助你得到想要的结果。样品表面粗糙度和表面特征可能会将你感兴趣的特定区域覆盖，这些区域可能包含材料的表面缺陷或特征等重要信息。正如这个案例一样，你需要从一个新的角度解析。例如在电脑芯片上进行故障分析时，一根导线或者其他物体可能会将导致故障的错误连接覆盖住。或是统计特殊设计的合金颗粒，这些颗粒能提高最新发动机部件或微型医疗工具的性能，由于表面粗糙结构能将部分颗粒隐藏，使得统计结果不准确。
