应用领域：电子/电器/半导体
资料类型：样本
常规试样制备
包括生产用于透射电子显微镜的高质量横截面标本所需的所有组件。广泛使用的横截面试样包括半导体器件（通常具有多层，因此具有多个界面）、具有薄膜层的试样和复合材料。
方案摘要
