PROFILE ICP测定二次盐水痕量杂质

应用领域:

资料类型:PDF

方案摘要

由于高浓度NaCl的影响,准确测定二次盐水中的痕量杂质只能使用标准加入法。下面的方法主要针对Leeman Labs公司的Profile,Profile Plus垂直型ICP-AES。

店铺 下载
咨询留言 一键拨号