氢化物—原子荧光光谱法（HG—AFS）是将氢化物发生技术与无色散原子荧光检测系统完美的结合，从而发展起来的一种新的联用分析技术，专门用于测试可形成气态氢化物的As、Sb、Bi、Se、Te、Pb、Sn、Ge，以及可形成挥发性气态组分的Hg、Cd、Zn等元素。氢化物发生原子荧光光谱仪具有仪器结构简单、分析灵敏度高、气相干扰少、线性范围宽、分析速度快等优点，受到国内外分析工作者的高度重视。      AFS200T双道原子荧光光谱仪是天瑞仪器公司精心打造，使用多项国家专利技术，具备自主知识产权的精密分析仪器。它性能优良、功能齐全，可以满足用户的样品分析测试需求。