共焦拉曼光谱仪与原子力显微镜联用技术

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方案摘要

  • 进行AFM 微区形貌扫描成像的同时,控制Renishaw激光拉曼光谱仪进行同步拉曼扫描成像,形貌和结构图像可叠加显示。
  • 实现高空间分辨率形貌成像的AFM:高性能、低噪音的NANONICS 或 NT-MDT等厂家的原子力/近场光学系统
  • 用于化学结构分析的显微拉曼:高度灵活的Renishaw inVia显微共焦拉曼光谱仪
  • 全面支持TERS测试(针尖增强拉曼散射)
  • 高效直接耦合光路( 无需光纤)充分保障通光效率,极大缩短了拉曼测量时间
  • inVia系统可配备多种激发波长,适用于种类广泛的材料分析
  • 正置和倒置显微镜均可配置
  • 一台计算机同时控制拉曼和原子力两套系统

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