进行AFM 微区形貌扫描成像的同时，控制Renishaw激光拉曼光谱仪进行同步拉曼扫描成像，形貌和结构图像可叠加显示。

　　 实现高空间分辨率形貌成像的AFM：高性能、低噪音的NANONICS 或 NT-MDT等厂家的原子力/近场光学系统

　　 用于化学结构分析的显微拉曼：高度灵活的Renishaw inVia显微共焦拉曼光谱仪

　　 全面支持TERS测试(针尖增强拉曼散射)

　　 高效直接耦合光路( 无需光纤)充分保障通光效率，极大缩短了拉曼测量时间

　　 inVia系统可配备多种激发波长，适用于种类广泛的材料分析

　　 正置和倒置显微镜均可配置

　　 一台计算机同时控制拉曼和原子力两套系统