ContourGT三维光学显微镜

•  业界最高垂直分辨率
•  极高的可靠性和最好的测量重复性
•  最高的表面测量和分析速度
•  最强的使用性，操作简便，分析功能强大

　　ContourGT光学显微镜系列

　　30年技术革新，实现非接触式表面测量技术高峰

　　ContourGT 系列结合先进的64位多核操作和分析处理软件，专利技术白光干涉仪(WLI)硬件前所未有的操作简易性，推出历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围，样品安装灵活，且具有业界最高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中，最广泛使用和最直观的3D表面计量平台。

　　业界最高的垂直分辨率，最强大的测量性能

• 0.5倍至230倍的放大倍率，在极宽的测量范围内，对样品表面形状和纹理进行表征。
• 任何倍率下从亚纳米级到超过10毫米级垂直测量量程提供了无以伦比的测量灵活性。
• 荣获R&D 100 研发大奖的AcuityXR™ 测试功能实现最高的横向分辨率。

　　多核处理器下运行的Vision64™ 软件，

　　大大提高三维表面测量和分析速度

• 新的软件设计使数据处理速度提高几十倍
• 多核处理器和64位软件使数据分析速度 提 高十倍。
• 无以伦比的无缝拼接能力，可以把成千上万

　　个数据拼接成一张连续的完美图像。

　　测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性

•  高亮度的双LED照明专利技术提高测量质量。
• 最佳化的硬件设计提高了仪器对震动的容忍度和

　　GR&R测量的能力。

• 专利的自动校准能力确保了仪器与仪器之间的相 关性，测量准确度和重复性。

　　高度直观的用户界面，拥有业界最强的

　　实用性，操作简便和分析功能强大

• 优化的用户界面大大简化测量和数据分析过 程，从而提高仪器和操作者效率
• 独特的可视化操作工具为用户提供易于学习和 使用的数据分析选项
• 用户可自行设置数据输出的界面