应用领域：其他
资料类型：样本
徕卡Leica EM TIC 3X可通过离子束侧面轰击样品，获得高质量无应力“切割”截面，以便于SEM观察，及EDX或EBSD等分析。并可对样品进行离子束平面抛光，抛光面积达25mm。Leica EM TIC 3X适用于多层膜材料、软硬复合材料，金属、陶瓷、地质等各种材料。Leica EM TIC 3X操作简单，不需要摸索条件即可获得理想的样品截面，使样品暴露内部细微结构信息。
方案摘要
