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微量杂质钨和钒的含量直接影响高纯金属的物理和化学性能。常用分析方法如萃取法具有分析周期长、环境危害大等特点。
本文采用标准基体匹配合电感耦合能离子体发射光谱法（ICP-OES）测定合金钢中的钨（W）和钒（V）元素。结果表明该方法具有分析快速、准确度到、精密度好和检出限低等特点。
方案摘要
