内容简介：

由于纳米材料的特殊结构和性质，已经越来越多的被应用于工业和生活的各个领域，而已有的对于纳米颗粒表征和检测的手段并不适于常规监测。利用单颗粒纳米材料检测技术，仅通过一次 ICP-MS 快速分析就可以同时测定一种样品中的纳米颗粒粒径和粒径分布、元素组成、浓度（颗粒数/体积和质量/体积）以及溶解态金属浓度。本次研讨会主要给大家介绍Agilent 7900 ICP-MS 在单颗粒纳米材料检测中的原理和应用。

 

主讲人介绍：

贠照军博士，安捷伦公司应用工程师，从事 ICP-MS 的应用支持工作，负责 ICP-MS 在各行业的应用及新方法的开发。

 

会议时间：

2015年08月25日（星期二）北京时间10:00-11:00am

 

会议链接：

https://agilenteseminar-sc.webex.com/agilenteseminar-sc/onstage/g.php?d=960219757&t=a

标签：讲座，ICP-MS，7900，单颗粒，纳米，材料，元素