中国分析领域两年一度的盛会——北京分析测试学术报告会暨展览会BCEIA，将于10月27日-30日在北京国家会议中心举办。滨松中国本次将展出质谱、光谱、色谱三大分析应用中多款光源、光电探测器等产品。另外，量子级联激光器（QCL）、MOEMS微型化产品也将重点登场。

可用于质谱仪的离子探测器 R4146-10

 

紧凑的紫外-可见S2D2光源模块 

为了增加参观者对产品的体验，展台专门设立了DEMO演示区。由红外探测器和QCL组成的气体分析DEMO将在这里迎来中国首展，为观众生动诠释如今在环保领域中气体分析监测这一热门应用。另外，观众除了可再次见到尘埃探测器DEMO（可测PM2.5），也将有机会和极具潜力新品——笔头大小MEMS-FPI的DEMO进行“亲密接触”，现场将准备多种样品，供观众体验。

MEMS-FPI DEMO 现场有多种塑料样本供测试体验

随着社会的发展和环境的变化，分析仪器也出现了许多来微型化、便携化的需求，而想要真正把握改变的机遇，来自于核心器件的支持是必不可少的。滨松中国分析领域销售工程师张顺斌，将于10月27日13:20在V馆进行名为“‘微’型大义，滨松微型化新品为分析仪器带来更多应用可能”的现场报告，针对滨松利用MOEMS等技术开发的一系列微型化新品进行介绍，届时欢迎您的莅临。 

 滨松展台为P20、P22，报告地点位于V馆“厂商秀”区域

标签：滨松，BCEIA，微型化，MEMS，FPI，C12666MA