2017年1月5日日本电子株式会社全球同步发布新一代场发射双束FIB JIB-4700F。

场发射双束FIB近年来市场增长较快，JIB-4700F采用JEOL专利的大束流长寿命电子枪，束流强度可高达300nA，在保证高压和低压分辨率的同时，分析效率大大提高，另外离子束流最高也可达到90nA以上制样效率显著提高。

JIB-4700F是一款高分辨，高速分析、高速加工的三合一平台，可实现光镜与电镜的无缝连接。

详细信息请咨询日本电子株式会社在中国的子公司捷欧路（北京）科贸有限公司在各地的分部。

领域：电子/电器/半导体

标签：场发射 FIB