等离子体分析飞行时间质谱仪（PP-TOFMS）是一款新型材料表征技术，用于超快速、元素组分的深度剖析。

此次网络讲座将通过诸多实例为您展示研发过程中PP-TOFMS从薄膜和器件的生长到加工中表现的分析潜力。

加入会议，你将：

• 熟识PP-TOFMS的基本特征（分析速度、灵敏度和分辨率）

• 了解PP-TOFMS和目前熟知的表面化学分析技术（如XPS, SIMS, SEM-EDX, RBS）间的互补性

• 了解PP-TOFMS在快速表面&深度分析中的强大功能

谁需要参加？

• 从事材料研究的学术专家及研发工程师，如半导体、微电子、光电及光伏材料研究

• 计量管理人员及计量工程师；表面分析专家；XPS、SIMS、AES用户等

讲师

Agnès Tempez, PhD

PP-TOFMS产品经理，HORIBA Scientific

Yann Mazel

计量工程师

Emmanuel Nolot, PhD

首席计量师，CEA-LETI

时间

4月4日 星期二

10:00  AM / 5:00 PM（欧洲夏令）

报名

点击左下角“阅读原文”报名直达（国外系统打开较慢，请耐心等待）：

https://events.r20.constantcontact.com/register/eventReg?oeidk=a07edumvafd61969351&oseq=&c=&ch=

联系我们

• 电话：33-169747200

• 邮箱：live-sci.fr@horiba.com

 HORIBA Optical School

HORIBA一直致力于为用户普及光谱基础知识，其旗下的Jobin Yvon有着近200年的光学、光谱经验，我们非常乐意与大家分享这些经验，为此特创立 Optical School（光谱学院）。无论是刚接触光谱的学生，还是希望有所建树的研究者，都能在这里找到适合的资料及课程。 

我们希望通过这种分享方式，使您对光学及光谱技术有更系统、全面的了解，不断提高仪器使用水平，解决应用中的问题，进而提升科研水平，更好地探索未知世界。

领域：地矿/钢铁/有色金属,电子/电器/半导体,汽车/铁路/船舶/交通,航空/航天,机械设备,纳米材料,高分子材料,生物质材料