PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组（20世纪90年代），围绕原位电学测量样品杆，泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展，已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆，产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。

PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位电学测量样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

原位电学测量样品杆技术指标

电学测量	力学操纵
1.包含一个电流电压测试单元；	1.探针粗细调方式：全软件操控；
2.电流测量范围：1nA-30mA；	2.粗调范围：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm；
3.电流分辨率：100fA；	3.细调范围：XY方向18um，Z方向1.5um；
4.电压输出范围：±10V，±150V；	4.细调分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm；
5.软件自动测量：I-V、I-t

原位电学测量样品杆产品选型

原位电学测量样品杆 具有单倾、双倾两个版本，用户可根据实验需求自行选择。

泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号样品杆，同时保证透射电镜原有分辨率。

原位电学测量样品杆国内部分用户

典型案例

1、透射电镜内的原位电学实验；

2、透射电镜内的原位压缩、拉伸实验。

领域：电子/电器/半导体,机械设备