IXRF公司参加中国电镜学术年会以及BCEIA展览会

2013-10-30 16:57

IXRF公司参加中国电镜学术年会以及BCEIA展览会         1.2013中国电镜学术年会于18-22号在重庆举行,国内众多电子显微学专家、用户以及电镜仪器厂商三百多人参加,美国IXRF公司携手天美中国亮相此次盛会。美国IXRF公司的应用专家Mandi在亚太区产品经理Kevin LIU的陪同下参加此次年会,IXRF公司海报在天美中国展台与Hitachi众多扫描电镜品牌同时展出。Mandi与天美中国华北华东华南区销售代表讨论中国区与Hitachi扫描电镜合作项目,另外Mandi还与其他扫描电镜厂商会晤讨论将来中国市场的合作。 20131030165143.jpg IXRF与天美中国展台---中国电镜学术年会,重庆       2.第15届北京分析仪器测试展(BCEIA)于23至26号在北京展览馆隆重举行。几款IXRF公司X射线微区分析产品在天美中国展台展出,包括有日立SU3500扫描电镜上现场展示的电制冷能谱仪,扫描电镜的X射线荧光分析仪器(SEM-XRF),超级样品台以及扫描电镜制样设备等。IXRF公司美国应用专家Mandi现场展示拥有最强大功能的能谱仪软件Iridium Ultra,吸引了众多客户参观,并且应需求现场为客户做样,客户对于结果非常满意,同时也被易用且功能强大的软件所吸引。另外,IXRF公司的SEM-XRF模型以及超级样品台Super Stage也同时展出,有不少客户包括媒体的同事前来参观这种先进的仪器分析方法,现场了解这种分析方法的优势。 2013103016523.jpg IXRF 能谱仪现场展示& IXRF SEM-XRF 展台---BCEIA IXRF公司X射线微区分析产品     IXRF公司成立于1993年,位于美国德克萨斯州,专注于精确的X射线微区痕量元素分析产品,包括能谱分析(EDS)和X射线荧光分析(XRF)。特别是在世界上首次将微型X射线管整合到电镜上,利用EDS探测器来接受信号,实现了EDS分析和XRF分析的互补,其SEM+EDS+XRF的X射线微区分析解决方案得到了广泛的推广和应用。

 


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