M&M 2019 隆重开幕

2019-8-07 10:17

2019年8月5日， “M&M 2019”（M&M，Microscopy and Microanalysis）在美国俄勒冈州波特兰市隆重开幕。

TESCAN公司携多款扫描电镜和聚焦离子束系统亮相M&M 2019，包括镓离子双束聚焦扫描电镜系统（Ga FIB-SEM）---- TESCAN S8000G，氙离子双束聚焦扫描电镜系统（Xe FIB-SEM）---- TESCAN S9000X，钨灯丝扫描电镜 ---- VEGA3, 以及最新发布的超高分辨热场发射扫描电镜 ---- TESCAN CLARA。

TESCAN 展位（BOOTH #1108）

TESCAN 展位一角（BOOTH #1108）

TESCAN S8000G和TESCAN S9000X是TESCAN分别于2017年和2018年最新推出的两款仪器。 TESCAN S8000G集成了新一代的Bright Beam TM SEM镜筒、Orage TM Ga FIB镜筒、OptiGIS 气体注入系统等多项创新设计，在高分辨成像、原位应用扩展和分析扩展等方面达到了业内顶尖水平。TESCAN S9000X配置了新一代的Triglav TM SEM镜筒和iFIB + TM FIB 镜筒，其设计最适合用于面对半导体和材料表征中最具挑战性的物理失效分析，具有极高的分析、加工精度和加工效率。

TESCAN的应用专家在为客户演示

TESCAN CLARA是基于TESCAN S8000系列进一步研发的新机型，在设计时更着重于材料研究方面的需求，可以为各种类型的材料分析研究提供全面的支持。相对于TESCAN S8000, TESCAN CLARA优化了低电压下的分辨率，同时也能更适应一些苛刻条件下才能完成的分析实验。软件方面，CLARA更直观的模块化设计可以为每个操作者都定制最适合的操作界面和流程，协助他们更高效、便捷、可靠的完成工作。

TESCAN公司CPO -- Bruno Janssens曾经说过：“我们期待着在2019年于波特兰举行的M&M大会上，推出以TESCAN CLARA为主题的新分析产品组合。CLARA能够分析各种类型的材料，并能满足最苛刻的实验要求，从高端科研到教学，它都是一个理想的选择。”

来自于美国、日本、中国、澳大利亚、比利时、捷克等国家的众多客户参观了TESCAN的展位，本次TESCAN展位上的所有仪器都受到了这些与会者的强烈关注，其中最新发布的TESCAN CLARA最引人注目，在会议第一天就进行了多次演示和说明。所有TESCAN仪器的演示时间都在会议的第一天就被预约完。