PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆，基于MEMS原位芯片技术，通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片，在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。
PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位加热/电学样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的加热芯片和电学测量芯片。加热芯片可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
原位加热/电学样品杆技术指标
| 电学测量 | 加热控温 |
| 1.包含一个电流电压测试单元； | 1.温度范围：室温至1200℃； |
| 2.电压输出：Max ±200V， Min ±5 uV； | 2.加热功率：Max 30W； |
| 3.电流测量：Max ±1.5 A， Min ±100fA； | 3.控温稳定性：优于±0.1℃； |
| 4.恒压或恒流模式 | 4.PID/Pulse/Manual三种控温方式； |
| 5.软件控制，数据自动保存。 | 5.软件控制，数据自动保存。 |
原位加热/电学样品杆产品选型
原位加热/电学样品杆 具有单倾、双倾两个版本，电极数可选；同时可拓展真空转移芯片杆、低温芯片杆，用户可根据实验需求自行选择。
泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号芯片式样品杆，支持定制。
原位加热/电学样品杆国内部分用户
原位加热/电学样品杆典型案例
1、透射电镜内的原位加热实验；
2、透射电镜内的原位加电实验（可选针对敏感样品的真空转移方案）；
3、透射电镜内的原位热电耦合实验；
4、透射电镜内的低温电学实验；
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