天平 超越系列XS精密梅特勒托利多 Lab维护指南_针对不同使用环境，有着不同的操作与维护流程，点击查看操作维修手册。

称量是实验室中的常见任务， 超微量天平、半微量天平、分析天平和精密天平已经发展到一个新阶段，一般来说，不需要特殊的称量房间。电子技术的进步已经极大的简化了天平的操作，减少了称量时间，使天平适应性更强，现在可以直接融合到生产流程中。但是，该过程中的固有风险没有受到足够的重视以阻止来自周围区域的干扰因素。当使用精密、半精密和分析天平时，如果要得到高质量的结果，有许多需要特别注意的点，这些说明的目的就是为了阐明这些点。

技术参数：
型号            zei大称量值/可读性
XS203S          210g/0.001g
XS403S          410g/0.001g
XS603S          610g/0.001g
XS603SDR        120g/0.001g,610g/0.01g
XS1003S         1010g/0.001g
XS802S          810g/0.01g
XS2002S         2100g/0.01g
XS4002S         4100g/0.01g
XS4002SDR       800g/0.01g,4100g/0.1g
XS6002S         6100g/0.01g
XS6002SDR       1200g/0.01g,6100g/0.1g
XS4001S         4100g/0.1g
XS6001S         6100g/0.1g
XS8001S         8100g/0.1g
XS8001L         8100g/0.1g
XS16001L        16100g/0.1g
XS32001L        32100g/0.1g
XS32001LDR      6400g/0.1g,32100g/1g
XS16000L        16100g/1g
XS32000L        32100g/1g

应用领域：
梅特勒托利多XS精密天平，则是食品化工行业，关注至高称量效率，易于清洁的理想选择。

梅特勒托利多XS精密天平，配合其创新选件，为快速高效的称量过程设立了全新标准。

ž仪器特点/功能：
1. 采用高速单模块传感器(MonoBlocHighSpeed)，以zei快的速度准确称量结果，具有良好的抗冲击、抗过载性能；
2. 具有中文界面的触摸屏(TouchScreen)，实现安全、便捷的天平操作；
3. 全自动校准技术(FACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正，获得精确称量结果；
4. zei小称量值(MinWeigh)功能，提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒托利多客户服务工程师现场设置激活)；
5. 显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀；
6. 标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备；
7. 符合GxP规范的称量结果输出，获得完整的、可追溯的称量信息；
8. GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作；