产品描述
点击查看下载激光粒度仪Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析仪 应用于地矿/有色金属相关资料，进一步了解产品。
本文介绍了用于原位纳米粒度分析的唯一远程光纤探头技术VASCO KinTM。由法国高端技术公司（CORDOUAN Technologies）开发的VASCO KinTM是一款功能全面的纳米粒度分析仪，它利用先进的单模光纤技术将DLS测量导入到你的过程监控。创新的光纤远程探头(下文介绍其原理)使VASCO Kin能够非常简单地结合到你现有的实验装置上(如合成反应器或小角X光散射SAXS系统)，给用户提供了最大的测量灵活性，以监测和改进其工艺过程的颗粒粒度随时间或反应条件的变化。
适用样品浓度：0.1ppm-40%（w/v）
时间分辨: DLS的分辨率为0.2s，用于动力学监测
随时间变化的粒度分布彩色地形图
“时间切片”功能：用户对测试后数据可进行任意时间段内的粒度分析
样品前处理：无需样品前处理，直接测试
硬件规格（核心单元）：
1. 激光源： 高稳定性激光二极管（可选蓝光和绿光）
2. 探测器： 无伪影雪崩光电二极管（APD）
3. 计算设备： 内嵌专用电脑
4. 数据处理： NanoKin® 相关和分析软件
5. 典型测量时间：最快200ms。测量时间由样品和测量设置决定
6. 操作条件/存储条件：15℃ ~ 40℃ / -10℃ ~ 50℃ – 非冷凝相对湿度 < 70%
7. 尺寸/重量： 220 x 220 x 64 mm (上半部分) / 2.5 kg
220 x 220 x 48 mm (下半部分) / 2.8 kg
Nano Kin™软件的主要特点：
- 三个层级登录配置文件：管理员、专家、操作员
- 运行模式：包括测量、模拟、后分析（导入）
- 直观导航（顺序）
- 时间切片和动力学模式：独特的技术，允许监测快速动力学和/或准确的再现性测量（时间分辨率高达200毫秒）。
- 可读数据和绘图：
- 动态导出数据/绘图（右键单击到剪贴板）
- 报告文件格式：.pdf或.rtf（兼容writer软件）
- 反转算法：
- CUMULANTS 累积量算法：用于具有单分散趋势的单峰样品
- PADE-LAPLACE算法（专有）：多峰样品的离散数学方法。
- 稀疏贝叶斯学习算法（SBL；专有）：多峰样品的连续分布数学方法。对于所期望的分布斜率不需要先验知识，正则化参数自学习概率计算模块。
Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析是新一代动态光散射纳米粒度分析仪，通过远程光学探头，进行原位非接触测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。常用于实时纳米颗粒合成过程监控, 核反应堆内现场测量，与其它粒度特性测量仪器联用(如光谱仪、SAXS等)。
粒度测量范围 : 0.5nm 到 10μm
背向动态光散射原理，实时远程非接触测量
监测纳米颗粒合成过程；监测整个过程的粒度变化情况，有助于稳定性研究
全自动非接触测量：能穿透玻璃和塑料针管，测定包装物及反应釜中的粒度分布和随时间的变化
