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ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

优于光学方法的技术优势：

• 被测样品无需稀释；

• 排除杂质及对样品污染的干扰；

• 不需定标；

• 能分析多种分散物的混合体；

• 高精度；

• 所检侧粒径范围款从5 nm至1000um

优于electroactics方法的技术优势：

• 无需定标；

• 能测更宽的粒径范围；

• 无需依赖Double Layer模式

• 无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；

• 零表面电荷条件下也可测量粒径；

• 可适用于无水体系；

• 可适用于高导电(highly conducting)体系；

ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

优于微电泳方法的技术优势：

• 无需稀释，固合量高达60%；

• 可排除杂质及对样品污染的干扰；

• 高精度(±0.1mv)；

• 低表面电荷(可低至0. 1mv)；

• electrosmotic flow不影响测量；

• 对流(convection)不影响测量；

• 可精确测量无水体系；

技术参数：

• 所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；

• 可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；

• Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

• 零表面电荷条件下也可测量粒径；

• 允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；

• 样品体积：30-230ml；

• PH范围：0~14;

• 电导率范围：0~10 s/m

ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

典型应用：

综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。

主要特点：

• 能分析多种分散物的混合体；

• 无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；

• 可适用于高导电(highly conducting)体系；

• 可排除杂质及对样品污染的干扰；

• 可精确测量无水体系；

• Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；

• 样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；

• 具有自动电位滴定功能；