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X射线荧光能谱仪（EDXRF）-M4 Tornado
德国布鲁克-微区刑侦痕迹行业的领军者
特点：
采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑最小，空间分辨率最高
涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得高品质的样品影响，可在“飞行中”进行元素分布分析。
通过可选的双X射线光管和最多6个滤光片进行灵活的激发
使用Xflash探测器超高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
采用无标样分析法精确定量分析块状样品，精确分析多层膜样品
具有便捷进样功能的可抽真空的样品室
应用行业：
司法鉴定、法医及痕量分析（对衣物上的弹孔进行射击残留物GSR分析）
地球科学（岩芯、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像）
艺术与考古（对文物进行颜料，色料的成分分析，修复文物）
质量控制与故障分析仪（电子和电子部件元素分析，ROHS分析）
发动机部件、电机/润滑油（识别电机/润滑油中的发动机磨损产物）
生命科学（检查树木横断面/叶子/树根年轮）
材料科学（钢材腐蚀检验）
环境科学（土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物）
过滤器上的薄膜（空气滤膜）

M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元

M4 TORNADOPLUS能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。

作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品，M4 TORNADOPLUS又增添了功能，例如创新性的孔径管理系统，高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。

更轻、更快、更深

M4 TORNADOPLUS采用元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）实现对轻元素碳的检测，高通量脉冲可以大程度采样速度，BRUKER孔径管理系统（AMS）可以获取大景深，对表面不平整样品分析具有优势。

元素检测

M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪，具备两个具有元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。

与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同，M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下，还可以检测原子数小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。

随着功能性的增强，M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中，例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。

应用实例-萤石和方解石的区分

萤石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z＜11(Na）的元素，无法区分这两种矿物，所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。

利用元素探测器，M4 TORNADOPLUS可以检测氟（F）、氧(O)和碳(C)，从而鉴别这两种矿物。

图：鉴别萤石与方解石 

左：方解石（红）和萤石（蓝）的元素分布图；图像尺寸：20×12mm2；扫描分辨率：800×460pixels             

右：萤石（蓝）和方解石（红）的轻质元素光谱图。

应用实例-电路板

由于AMS的场深度深，如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外，由于激发X射线光子的入口和出口角度减小，光束能量依赖性变得不那么明显。

图：具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图

左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上，元件的高点失焦，显得模糊。

右图: AMS系统加载下图像显示高景深，组件聚焦在更大的景深范围内。