产地：北京； 品牌：冠测
发布时间：2023年04月
工频抗干扰介质损耗测试仪GCSTD-CII冠测 标准有特定规范与标准，应用于电子/半导体行业领域。点击查看相关规范标准。
本仪器是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。
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