GCSTD-CII冠测介电常数测定 应用于电子/半导体
价格:7800

GCSTD-CII冠测介电常数测定 应用于电子/半导体

产品属性

  • 品牌冠测
  • 产地北京
  • 型号GCSTD-CII
  • 关注度0
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发布时间:2023年04月

产品描述

GCSTD-CII冠测介电常数测定 应用于电子/半导体有特定规范与标准,应用于建材/家具行业领域。点击查看相关规范标准


本仪器是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。



北京冠测精电仪器设备有限公司

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