主要技术特色：

提供各种不同几何结构及分割探头选择

同时支持BF/LAADF/MAADF/HAADF/DPC多种成像

支持电压范围：5keV~300keV

配备集成16通道前置放大器，用于读取探测器的每个通道，且能够保证都具有很好质量

探头感度高，成像具备非常低噪音

快速响应时间<30ns

前置放大器增益为10e5 V/A

兼容各种类型的PNDetector公司STEM探头

适配各种型号透射电镜/扫描电镜

配备集成16通道前置放大器，用于读取探测器的每个通道，且能够保证都具有很好质量
成像具备非常低噪音
快速响应时间<30ns
前置放大器增益为10e5 V/A
兼容各种类型的PNDetector公司STEM探头
适配各种型号透射电镜/扫描电镜
同时支持BF/LAADF/MAADF/HAADF/DPC多种成像

产品应用

应用结果：

图1：含嵌入SiC纳米颗粒（10-200 nm）的镁薄片的FIB薄片，平均原子序数差异非常小（Mg：Z=12，MgO：Z=10， SiC：Z=10），利用PNDetector高级多功能STEM探头可以同时获取BF/LAADF/MAADF/HAADF图像

图2：35nm薄钴金属样品的DPC成像结果，磁畴结构的方向和强度用不同颜色表示