X射线探测EIGER2 X/XE CdTe DECTRISDECTRIS
价格:3000000

X射线探测EIGER2 X/XE CdTe DECTRISDECTRIS

产品属性

  • 品牌DECTRIS
  • 产地瑞士
  • 型号EIGER2 X/XE CdTe DECTRIS
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产品描述

瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器EIGER2X/XECdTe产品详情:


1、产品特点:

     第四代同步加速器的尖端技术:

    EIGER2X/XE CdTe探测器是为在高能量段需要高分辨率和高帧速率的科学家设计的。单个像素尺寸仅为75µm,且对能量到达100keV的光子仍有很高的量子效率。由于死时间为零,所以每帧之间不会丢失光子。两个可调的能量阈值可以同时区分荧光背景(低能阈值)并且测量高次谐波的影响(高能阈值)。最大计数速率高达107光子/秒/像素。EIGER2XCdTe探测器性能优异且易于集成和操作。


2、核心优势:

    –高量子效率范围达100KeV

    –无图像延迟或余辉

    –最大计数速率高达107光子/秒/像素

    – 双能量阈值

    – 电子门控触发

    –有效面积大


3、应用领域:

    – x射线衍射(单晶和粉末)

    – 现场和原位技术

    – 衍射显微镜和层析成像

    – 漫散射和对分布函数


技术参数:

型号EIGER2XCdTe 500K

EIGER2XCdTe 1M

EIGER2XCdTe 4M

EIGER2XCdTe 9M

EIGER2XCdTe 16M

EIGER2XECdTe 9M

EIGER2XECdTe 16M


有效面积:宽x高[mm2]

77.1 x38.4

77.1 X79.7

155.1 x162.2

233.1 x244.7

311.1 x327.2

233.1 x244.7

311.1 x327.2


像素大小[μm2]

75x75


总像素数量

1028x512

1028x1062

2068 x2162

3108 x3262

4148 x4362

3108 x3262

4148 x4362


间隙宽度,水平/垂直(像素)-/--/38

12 /38

12 /38

12 /38

12 /38

12 /38

12 /38


最大帧频*[Hz]

2000

2000

500

230

550

550


计数器深度[bit]

32

32

32

32

32

32


读出时间连续读数点扩散函数1pixel


传感器材料CdTe


传感器厚度[μm]750


能量范围[keV]8-100


最大计数率[ph/s/pixel]107


尺寸(WHD)[mm3]

114x92x242

114x133x242

235x237x372

340x370x500

400x430x500

340x370x500

400x430x500


重量[kg]3.7

4.7

15.4

15.5

15.5

15.5


冷却方式水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

水冷(模块)/风冷(电子学)

北京优纳珂科技有限公司

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