X射线探测EIGER2 R CdTe DECTRISDECTRIS
价格:3000000

X射线探测EIGER2 R CdTe DECTRISDECTRIS

产品属性

  • 品牌DECTRIS
  • 产地瑞士
  • 型号EIGER2 R CdTe DECTRIS
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产品描述
产品详情:
1、产品特点:
      EIGER2RCdTe X射线探测器将混合像素光子计数探测器的新发展和碲化镉感光器件的高量子效率集合在一起。EIGER2RCdTe是一个较好的选择,适用于使用高能量X射线源或需要双阈值设置时。DECTRIS公司的即时触发技术使他们具有高的计数率能力,可以更精确地测量X射线源所能达到的高强度。EIGER2RCdTe探测器具有两个能量阈值,所以在环境背景下拥有更低的暗电流和背景噪音。这可以大大提高了弱信号和长时间曝光时的信噪比,使得它在更短的测量时间下能获得更好的数据质量。单光子计数与计数器连续读/写技术相结合,克服了传统积分探测器容易饱和以及动态范围有限的问题。此外,感光像素直接将X射线转化为电信号,配合75µm的小像素尺寸使得探测器具有高的空间和角度分辨率。
2、核心优势:
       – 针对高能射线有高的量子效率、更短的测试时间和更高质量的数据
    –即时触发技术使得计数率大幅度提高
    –双能阈值,可用于低背景和高背景的抑制
    – 无读出噪音和暗电流,确保了最佳的信噪比
    – 计数器具有同时读/写功能,确保了高动态范围和无饱和的图像
3、应用领域:
    -大分子晶体学(MX);
    -化学结晶学;
    -小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS);
        -μCT;
        -高压晶体学;
技术参数:
型号EIGER2RCdTe 500KEIGER2RCdTe 1MEIGER2RCdTe 4MEIGER2RCdTe 2M-WEIGER2XECdTe 1M-W
有效面积:宽x高[mm2]77.1 X38.477.1 x79.7155.1 x162.2311.1 x38.4155.1 x38.4
像素大小[μm2]75x75
总像素数量1028x5121028 x10622068 x21624148 x5122068 x512
最大帧频*[Hz]1001002050100
计数器深度[bit]3232323232
读出时间连续读数点扩散函数1pixel
传感器材料CdTe
传感器厚度[μm]750
能量范围[keV]8-25(8-100,withoptionalextendedenergyrangecalibration)
计数率[ph/s/pixel]5.5 x106
尺寸(WHD)[mm3]114x133x242235x237x372340x370x500400x430x500340x370x500
重量[kg]3.74.7159.75.8
冷却方式水冷(模块)/风冷(电子学)水冷(模块)/风冷(电子学)水冷(模块)/风冷(电子学)水冷(模块)/风冷(电子学)水冷(模块)/风冷(电子学)

北京优纳珂科技有限公司

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