产品介绍：
TST350型张应力测试热台成功地将温度控制下的张应力测试过程与显微观察相结合。该设备既可以测试材料在室温到350℃温度下的张应力特性，同时也可以观察材料在测试过程中的光学性能变化和断裂过程。此外，根据需要还可以增加电极。
性能参数：
- 温度范围：-196℃到350℃
- 易于安装，便于显微镜观察样品
- 易于放置样品，宽度范围0.001到22mm，厚度范围0.001到2mm，长度26mm
- 拉伸速度范围：1-1000um/s
- 张力范围：0.01N到20N或0.1到200N，张力分辨率：0.01N或0.1N
- 行程：80mm，位置分辨率：10um
- 物镜工作距离：7.5mm，聚光镜工作距离：12.5mm
- 温度控制速率：0.01到30℃/min