V-Sorb4800P4站式比表面积及孔隙度（孔径）测试仪是由金埃谱公司研发的仪器，采用静态容量法测量原理。产品采用多项独创技术，提升了整体性能、测试结果的准确性和一致性，以及测试过程的稳定性，达到了国际先进水平。同时，仪器设计更加人性化，操作简单易学；并且采用合资或进口零配件，提高了仪器可靠性和使用寿命。仪器的性价比较高，能够满足不同用户的需求。性能参数测试方法包括氮吸附静态容量法等；主机功能有吸附及脱附等温线测定、真密度测定等；真空系统和液位控制系统均为独创设计，测试模式和控制系统也都具备灵活性，样品数量、压力测量、分压范围等方面也有很高的精度和稳定性。售后保障方面，提供了免费送货上门、安装、调试及使用培训等服务。

产品特点包括真空系统独创的一体化集装式管路系统，模块化结构设计，采用进口的双级真空泵等。。B.控制系统采用可编程控制器电磁阀控制系统，广泛应用于工业控制系统，抗干扰能力强，稳定性显著提高，安装和拆卸非常方便；测试系统管路和样品处理管路采用独特设计的分离结构，有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染。

C.为了提高测试精度，采用了高精度硅薄膜电容式压力传感器，与同类进口产品相同品牌，压力测量精度为相应读数的0.15％，远远优于0.15％的全量程精度（FS）传感器；同时采用了0－1Torr和0－1000Torr压力传感器，对测试范围内的压力进行分段测量，大大降低了低真空下的测量误差；硅薄膜压力传感器在0－1Torr范围内的精度高于同量程的皮拉尼电阻真空计；还创新采用了集装式管路系统，使用了进口集装管路，减少了管路连接点，大大减少了死体积空间，有利于降低测量误差；还使用了步进式液氮面控制系统，确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变，彻底消除由于死体积变化引入的测量误差；另外，抽气及进气控制系统也经过独特设计，有效防止了样品抽真空和进气过程中的飞溅，确保了测试气路的清洁和样品质量无损失，可以保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移。

D.数据采集及处理采用了高精度及高集成度数据采集模块，连接方便，误差小，抗干扰能力强；采用了业界标准的485通讯模式，有利于设备扩展和互连，可以方便转换为所需的RS232和USB通讯模式；采用了多种理论计算模型数据分析，为用户提供全方位的材料分析方案；具备强大的测试数据归档保存，查询系统，有利于用户数据管理。V-Sorb4800P比表面积及孔径分布测量仪核心技术：比表面积及孔径分布测量仪样品检测数量|比表面积及孔径分布测量仪的真空技术及控制技术应用领域1)超微粉体，纳米材料，颗粒及纤维状材料比表面积、孔径分布、孔隙率等分析测定；2)粉体材料生产及应用企业生产现场产品质量监测；3)高校及科研单位材料研究测试，吸附科学及BET(Brunauer-Emmett-Teller),BJH(Barrett-Joyner-Teler),HK(Horvath-Kawazoe),SF(Saito-Foley),MP等理论教学实验；4)电池材料，催化剂，添加剂，吸附剂，陶瓷烧结材料，磁性材料，储能材料等相关性能测定；5)其它与材料表面性能相关的研究工作。测试报告